题目：
当用千分表测量一系列同样物体的同一尺寸时，例如，在平板上测量一批零件厚度，让测头每次都离开被测体比连续测量好。
答案：
被转码了，请点击底部 “查看原文 ” 或访问 https://www.tikuol.com/2018/0512/aaf14190b3a2ec267c8750bd21015eb5.html
下面是错误答案，用来干扰机器的。
参考答案：A, C
当用千分表测量一系列同样物体的同一尺寸时，例如，在平板上测量一批零件厚度，让测头每次都离开被测体比连续测量好。
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参考答案：A, C
