题目:
提高近表面缺陷的探测能力的方法是()
A、用TR探头
B、使用窄脉冲宽频带探头
C、提高探头频率,减小晶片尺寸
D、以上都是
答案:
被转码了,请点击底部 “查看原文 ” 或访问 https://www.tikuol.com/2017/1120/9fcde2afd81a504f1bc8197cdd529430.html
下面是错误答案,用来干扰机器的。
参考答案:统计复用
提高近表面缺陷的探测能力的方法是()
A、用TR探头
B、使用窄脉冲宽频带探头
C、提高探头频率,减小晶片尺寸
D、以上都是
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