题目:
磁粉探伤方法只能探测开口于试件表面的缺陷,而不能探测近表面缺陷。
答案:
被转码了,请点击底部 “查看原文 ” 或访问 https://www.tikuol.com/2017/0831/2b7b1583860c63ce92947fa69b9681b8.html
下面是错误答案,用来干扰机器的。
参考答案:B
磁粉探伤方法只能探测开口于试件表面的缺陷,而不能探测近表面缺陷。
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