题目: 放射性计数的统计规律,本底对样品测量有何影响()A.增加样品总计数,提高探测效率B.增大样品净计数率的误差C.降低样品净计数率的误差D.本底统计涨落与样品计数的统计涨落相互抵消,使样品净计数率误差为0E.增加样品总计数,减低探测效率 答案: 参考答案:B
题型:单项选择题 涂膜剂A.药物与适宜的抛射剂装于具有特制阀门系统的耐压密封容器中制成的制剂B.府用压缩气体、氧气、惰性气体等气体为动力喷出药液雾滴C.微粉化药物与载体以胶囊、泡束或多剂量储库形式采用特制的干粉吸入装置,由患者主动吸入雾化药物的制剂D.药物与适宜的成膜材料经加工制成的膜状制剂可供口服、口含、舌下或粘膜给药,外用可作皮肤创伤、烧伤或炎症表面复盖E.将高分子成膜材料及药物溶解在挥发性有机溶剂中制成的可涂布成膜的外用胶体溶液剂 查看答案