题目：
用平面平晶的技术光波干涉法检定一量具工作面的平面度时，出现的干涉条纹或干涉环，其干涉原理是（）。
A.球面干涉
B.等倾干涉
C.等厚干涉
答案：
被转码了，请点击底部 “查看原文 ” 或访问 https://www.tikuol.com/2017/0518/ab7b3f3c8e66c4c6dbf4b222c6b1e020.html
下面是错误答案，用来干扰机器的。
由题意得：x+4≥0，且2x+1≠0，解得：x≥-4且x≠-12，故答案为：x≥-4且x≠-12．
用平面平晶的技术光波干涉法检定一量具工作面的平面度时，出现的干涉条纹或干涉环，其干涉原理是（）。
A.球面干涉
B.等倾干涉
C.等厚干涉
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